os/21152583
Автор: Герасимова Л.К.
Год: 2013
Дополнительные характеристики
В издании представлены основные методы поиска патентной информации (НЦИС, ФИПС, ВОИС). Приводятся практические задания и контрольный тест. Предназначено для проведения лабораторных и практических занятий по разделу Патентные исследования. Рекомендовано преподавателям и студентам вузов и ССУЗов.